Elektronik Balast Sağlamlık Kontrolü

EN , çalışma koşulları altında, genel ve halka açık olmayan ağlar tarafından sağlanan düşük voltajlı güç, kontrol ve sinyal hatlarında meydana gelen halka dalgalarına karşı elektrikli ve elektronik ekipman için bağışıklık gereklilikleri ve test yöntemleri ile ilgilidir.

Bu standardın amacı, halka dalgalarına maruz kaldığında elektrikli ve elektronik ekipmanın bağışıklığını değerlendirmek için ortak bir referans oluşturmaktır. EN 'in bu bölümünde belgelenen test yöntemi, bir ekipmanın veya sistemin tanımlanmış bir fenomene karşı bağışıklığını değerlendirmek için tutarlı bir yöntemi açıklar.

Bu standardın amacı aşağıdakileri tanımlamaktır:

• Gerilim ve akım dalga biçimlerini;
• Test seviyelerinin aralıkları;
• Test ekipmanı;
• Test kurulumu;
• Test prosedürü.

Halka dalgası, elektrik şebekelerinin ve reaktif yüklerin anahtarlanması, arızalar ve güç kaynağı devrelerinin yalıtım arızası veya yıldırım nedeniyle düşük voltajlı kablolarda indüklenen tipik bir geçici geçici salınımdır. Aslında güç kaynağı şebekelerinde, kontrol ve sinyal hatlarında meydana gelen en yaygın olaydır.

Halka dalgası, endüstriyel tesislerin yanı sıra konutların çok çeşitli elektromanyetik ortamlarını temsil eder.

EUROLAB, üreticilere EN test uyumluluğu konusunda yardımcı olur. Test uzmanlarımız, profesyonel çalışma misyonu ve prensipleri ile siz üretici ve tedarikçilerimize laboratuvarlarımızda en iyi hizmeti ve kontrollü test sürecini sunar. Bu hizmetler sayesinde işletmeler daha etkin, yüksek performanslı ve kaliteli test hizmetleri almış olmakta ve müşterilerine, güvenli, hızlı ve kesintisiz hizmet vermektedir.

1-BİPOLAR TRANSİSTÖR SAĞLAMLIK KONTROLÜ:

2-UJT TRANSİSTÖR SAĞLAMLIK KONTROLÜ:

3-FET TRANSİSTÖR SAĞLAMLIK KONTROLÜ:

1-BİPOLAR TRANSİSTÖR SAĞLAMLIK KONTROLÜ:

Transistörlerin prensip olarak 2 diyodun katod veya anod uçlarından birbirine bağlanmış şekli olduğundan bahsetmiştik. Bu mantıkla yola çıkıldığında sağlam bir transistör içinde sağlam 2 diyod olması gerektiği sonucuna varılabilir. Aşağıdaki NPN transistör resminde 2 diyot görülmektedir. Beyz ucu her iki transistöründe anod ucudur. Ölçü aletimizi diyod ölçme kademesine alıp + ucumuzu beyze eksi ucumuzu kollektör veya emitöre deydirdiğimizde sağlam bir diyod değeri görmeliyiz. Aynı işlem PNP transistör için tam tersi olarak gerçekleştirilmelidir. Her 2 tip transistör içinde emitör kollektör ölçümünde ölçü aletinde değer okunmaması gerekir.

Bu yapılan işlemi ölçü aletimizin ohmmetre kısmıylada yapabiliriz. Ujt, bipolar ve fet transistörler için sağlamlık kontrollerini yapabileceğiniz TEST DEVRELERİNE ÖRNEKLER için tıklayınız

Bu işlemin bir diğer püf noktasıda bu ölçüm yöntemiyle, uçlarını bilmediğiniz bir transistörün, emitör, kollektör, beyz uçlarını tespit edebiliriz. Beyz ile kollektör arasında ölçtüğünüz değer ile beyz emitör arası değeri karşılaştırınız. Büyük olan değere ait uç emitör ucudur. Ancak bu işlem af ve bf serisi transistörlerde geçerli değildir. En doğrusu transistörün datasheet dosyasından yararlanmaktır.

datasheet siteleri için buraya tıklayınız

2-UJT TRANSİSTÖR SAĞLAMLIK KONTROLÜ:

Ölçü aletimizin ohmmetre ölçüm kısmı ile bu işlemi gerçekleştirebiliriz.

Ohmmetreyi b1 ve b2 uçlarına iki yöndede bağladığımızda yüksek direnç görmeliyiz.

3-FET TRANSİSTÖR SAĞLAMLIK KONTROLÜ:

FET transistörlerin sağlamlık kontrolünüde ohmmetre ile yapabiliriz.

n-kanal fette doğru polarma

G ve S uçlarını birbirine bağlayıp ölçü aletimizin - probunu bunlara bağlarız. + probumuzuda d ucuna bağladığımızda doğru polarma işlemini gerçekleştirmiş oluruz. Bu durumda ölçü aletimiz düşük direnç göstermelidir.

n-kanal fette ters polarma

Ters polarma yaptığımızda, yani d ve g uçlarını birbirine bağlayıp ölçü aletimizin eksi probunuda bunlara bağlarsak, + probumuzuda s ucuna bağlarsak yüksek direnç görmeliyiz.

p-kanal fet kontrolü için ölçü aleti probları tam tersi bağlanmalı ve aynı sonuçlar alınmalıdır.

TRANSİSTÖR TEST DEVRELERİNE AŞAĞIDAKİ LİNKLERDEN BAKABİLİRSİNİZ:

funduszeue.info

funduszeue.info